工作内容:
40/28nm量产产品维护管理:
1)熟练分析CP/FT测试数结果:熟悉多种角度的数据处理,直观的呈现数据包含的问题。
2)常见低良率真因追踪:CP&FT datalog failure mode 确认/SHMOO分析/WAT异常反馈/以及测试问题
的排除。
3)Logical & SRAM产品失效分析: CP测试失效、FT测试失效,线上等产品失效的FA/TEM/SEM/FIB layout
handbook制作同时会协同FA lab找的失效位置,并将结果反馈给FAB 内部制程/机台等方面改善。
4)客户报告:每周与2-3家客户汇报量产产品CP/FT良率状况、及时指出有测试问题的机台,测试卡、
程式等以避免测试厂误载。
40/28nm新产品导入:
1)新产品内部数据库的建立:熟练建立新产品的信息库、数据库,计算各项标准(根据公司内部的SOP)
2) 熟练掌握新产品数据分析: TT/Corner wafer CP by fail ratio/by datalog corr. with WAT分析以及确认产
品的量产window/sweet spot,良率提升工作。
3)制作新产品分析报告: 与 PEI 部门沟通确定相关参数,最终和客户讨论确认新产品量产 device
target/test spec合理性,具备良好的沟通能力与汇报能力。
主要业绩:
负责9个40/28 nm新产品顺利导入并且量产。
负责公司重要客户40/28nm量产产品的CP/FT良率的管控和低良问题的处理,积累多个紧急重大的case处理经验。