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简历详情

更新时间：2025-02-14

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                                        ATE测试开发经理                                    
                                

                                {{ direction }}
                            

                                37岁
                                /
                                男                                /
                                已婚                                /
                                硕士                                /
                                11年经验
                            

                                电话：
                                13800138000

                                  
                                邮箱：
                                abcd@163.com

曾就职领域：半导体,集成电路

目前居住地：上海市

期望工作地：上海市

目前年薪：50.00万元

期望年薪： 70.00万元

教育经历

工作经历

项目经历

教育经历

在校时间

2011 至 2013

专业

集成电路

就读学校

上海大学统招,211 硕士

在校时间

2009 至 2013

专业

材料物理

就读学校

贵州大学统招本科

工作经历

任职时间

                                    2020-01-01 至 2025-01-01
                                
                                    职位名称职位名称
                                
任职公司

                                    任职公司任职公司
                                
任职描述

                                    任职描述任职描述任职描述任职描述任职描述任职描述任职描述任职描述任职描述任职描述任职描述任职描述任职描述任职描述任;

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工作经历

任职时间

                                            2020-01-01 至 2025-01-01
                                        

                                            ATE工程师                                        
任职公司

                                            任职公司任职公司
                                        
任职描述
 根据 IP 设计报告，制定测试策略、计划，测试程序开发，制定测试硬件(CP/FT);
 通过确保测试程序达到预期的测试覆盖率和良率，将新产品导入量产;
 提高测试效率，降低测试成本；
 作为开发团队的一员，负责 DfT 定义、IC 调试、IC 验证和 IC 产品发布。

任职时间

                                            2020-01-01 至 2025-01-01
                                        

                                            ATE工程师                                        
任职公司

                                            任职公司任职公司
                                        
任职描述
 现场支持海思麒麟和基带芯片测试开发；
 测试程序 offline coding，对 LB、Socket 等硬件进行验证，保证测试程序的质量；
 与海思 MTE/DFT 工程师组成一个团队，在产品量产前参与不同模块的调试；
 分析筛选过程中出现的异常芯片，提升良率。

任职时间

                                            2020-01-01 至 2025-01-01
                                        

                                            RE                                        
任职公司

                                            任职公司任职公司
                                        
任职描述
 晶圆级 IC 器件可靠性参数测试，前道和后道可靠性失效分析；
 了解 28/40nm 制造工艺流程。